軟考中級(jí)軟件評(píng)測(cè)師考試分為《基礎(chǔ)知識(shí)》和《應(yīng)用技術(shù)》兩個(gè)科目，考試形式均為機(jī)考，時(shí)長(zhǎng)各120分鐘。以下是兩科的核心內(nèi)容及高頻考點(diǎn)總結(jié)：

一、《基礎(chǔ)知識(shí)》科目（單項(xiàng)選擇題，75分）

考試范圍覆蓋計(jì)算機(jī)基礎(chǔ)、軟件工程、測(cè)試?yán)碚摰染C合知識(shí)，核心模塊包括：

1.計(jì)算機(jī)系統(tǒng)基礎(chǔ)

硬件組成（處理機(jī)、存儲(chǔ)系統(tǒng)、I/O設(shè)備）；

操作系統(tǒng)（進(jìn)程/線程管理、內(nèi)存/文件系統(tǒng)）。

2.數(shù)據(jù)庫(kù)（基本原理、SQL語(yǔ)言）

網(wǎng)絡(luò)（協(xié)議體系、常用設(shè)備、Internet應(yīng)用）；

軟件工程知識(shí)（占比最高，約17%-25%）；

開(kāi)發(fā)模型（瀑布模型、快速原型、螺旋模型）；

軟件質(zhì)量管理（質(zhì)量標(biāo)準(zhǔn)、CMMI能力成熟度）；

配置管理、風(fēng)險(xiǎn)管理及軟件工程標(biāo)準(zhǔn)（如GB/T 16260質(zhì)量模型）。

3.軟件測(cè)試?yán)碚?/p>

測(cè)試原則與分類(lèi)（單元/集成/系統(tǒng)測(cè)試、黑盒/白盒/灰盒測(cè)試）；

測(cè)試過(guò)程模型（V模型、W模型、H模型）；

缺陷分類(lèi)（錯(cuò)誤、缺陷、故障、失效）。

4.其他重點(diǎn)

信息安全（加密機(jī)制、病毒防范）；

標(biāo)準(zhǔn)化與知識(shí)產(chǎn)權(quán)（國(guó)際/國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)、著作權(quán)法）；

專(zhuān)業(yè)英語(yǔ)（閱讀計(jì)算機(jī)領(lǐng)域英文資料）。

二、《應(yīng)用技術(shù)》科目（案例分析題，75分）

側(cè)重實(shí)際測(cè)試場(chǎng)景的案例分析能力，主要題型包括設(shè)計(jì)測(cè)試用例、分析缺陷、優(yōu)化測(cè)試策略等：

1.測(cè)試策略與用例設(shè)計(jì)

生命周期測(cè)試：需求評(píng)審、單元/集成/系統(tǒng)測(cè)試設(shè)計(jì)；

黑盒測(cè)試技術(shù)：等價(jià)類(lèi)劃分、邊界值分析、決策表（高頻計(jì)算題）；

白盒測(cè)試技術(shù)：路徑覆蓋、條件覆蓋、循環(huán)測(cè)試（需讀代碼找邏輯漏洞）。

2.專(zhuān)項(xiàng)測(cè)試技術(shù)

Web測(cè)試：兼容性（瀏覽器/分辨率矩陣）、安全測(cè)試（XSS/SQL注入攻防）、性能指標(biāo)（Apdex指數(shù)、吞吐量）；

自動(dòng)化測(cè)試：工具選擇（Selenium/JMeter）、負(fù)載壓力測(cè)試實(shí)施；

嵌入式/后端部署測(cè)試：需結(jié)合系統(tǒng)架構(gòu)設(shè)計(jì)測(cè)試方案。

3.測(cè)試管理

測(cè)試計(jì)劃制定、缺陷跟蹤流程、成本與風(fēng)險(xiǎn)控制。